Leistungsspektrum
Die Quality Analysis kann Bauteile von A wie ABS-Systeme bis Z wie Zylinderkopf auf ihre Sauberkeit analysieren und unterstützt ihre Kunden mit folgendem Leistungsspektrum:
Gravimetrie
Hochauflösende Laboranalysewaage
- Auflösung 0.00001 Gramm
- Reproduzierbarkeit 0,02 mg
- geeichte interne Justierautomatik gemäß den Anforderungen der EG-Richtlinie 90/384/EWG
- Justierautomatik bei Temperaturänderung >0,8°C und voreingestellten Zeitintervallen oder Mengenzähler
- DKD Kalibrierschein
- Gewichtswertübernahme in das EDV-System gemäß Eichvorschrift mit stabilem Gewichtswert
- Entkoppelung des kompletten Waagensystemes durch schwingungs-isolierende Sonder-Plattform zur Vermeidung von jeglichen Schwingungs- und Störfrequenzen
Extraktion
2 Extraktionsanlagen zur Bestimmung der Technischen Sauberkeit an sehr kleinen bis mittleren Bauteilegrößen und Beckendurchmesser 500 mm mit guten reproduzierbaren Messungen und folgenden Extraktionsmethoden: Fluten, spritzen, spülen, schütteln, Ultraschall.
Leistungsdaten & Merkmale:
- SPS Steuerung mit Touchpanel
- Volumenstromeinstellung 50 – 1800 ml/min
- Ultraschallleistung 15 – 200 Watt/Liter (Frequenz 40kHz)
- Kaskade für die Aufnahme von bis zu 3 Membranen
- Systemfilter 0,2 µm (Absolutfilter)
- Rücklauffilter 0,2 µm (Absolutfilter)
- Spritzdüse mit 2 mm Durchmesser
- Beschichtetes Auffangbecken
- Reinraumbedingungen im Analysebereich
1 große Extraktionsanlage zur Bestimmung der Technischen Sauberkeit an großen Bauteilen mit Abmaßen B/T/H 1700x745x905 mm mit guten reproduzierbaren Messungen und folgenden Extraktionsmethoden: spritzen, spülen, schütteln
Leistungsdaten & Merkmale:
- Handlingsystem für große Bauteile
- SPS Steuerung mit Touchpanel
- Analysebecken B/T/H 1700x745x905 mm
- Volumenstromeinstellung 50 – 1800 ml/min
- Kaskade für die Aufnahme von bis zu 3 Membranen
- Systemfilter 0,65 µm (Absolutfilter)
- Spritzdüse mit 2 mm Durchmesser
- Reinraumbedingungen im Analysebereich
Auflichtmikroskopie
Auflichtmikroskop der Marke JOMESA mit LED Ringlichtbeleuchtung und polarisierendem Licht und spezieller Software zur Bildverarbeitung und Analyse mit umfangreicher Dokumentation
Leistungsdaten & Merkmale:
- Sehr gute Reproduzierbarkeit
- Spezielle Analysesoftware zur Aufnahme, Archivierung und Auszählung des Gesamtfilters.
- Motorisierter 4-fach Kreuztisch für eine Aufnahme von bis zu 4 Membranen gleichzeitig.
- Partikelnormal zur Überprüfung der VDA Band 19 / ISO 16232 Partikelklassen mit Kalibrierzertifikat (2 µm Genauigkeit)
- Partikelnormal zur Klassifizierung und Überwachung des Analysesystems (1 µm Genauigkeit) mit Kalibrierzertifikat
- Motorische Polarisationseinstellung
- Automatische Erkennung zwischen Metall und Nichtmetall
- Automatische Erkennung der Fasern
- Pixelauflösung ab 2,5 µm/Pixel
Rasterelektronenmikroskopie mit EDX (Elementanalyse)
Rasterelektronenmikroskop EVO® MA 25 mit EDX vom Branchenführer ZEISS. Damit kann sowohl eine klassische REM-EDX Analyse und Auswertung der Partikelfrachten erfolgen, als auch mittels speziellen Detektoren anhand der Sekundär-Elektronen die topografische und somit die Oberflächen-sensitive Bewertung durchgeführt werden, als auch mittels der Rückstrahl-Sekundär-Elektronen die Analyse der Materialkontraste / Materialanalysen erfolgt. Durch die Ausstattung des Rasterelektronenmikroskops mit einem speziellen Softwaremodul „MeX alicona“, wird das REM zu einem vollwertigen und vollautomatischen „echten“ 3D-Oberflächenmessgerät.
Anwendungsgebiete neben der Technischen Sauberkeit sind Metallurgie, Automobilbau, Luft- und Raumfahrt, Leiterplatten Forensik und Museen, u.v.a.m.
Leistungsdaten & Merkmale:
- Auflösung:
3 nm bei 30 kV im Hochvakuum
10 nm bei 3 kV im Hochvakuum - Leistungsklasse: 0,2 – 30 kV
- Vergrößerung: <5 – 1.000.000 Fach
- Verfügbare Detektoren:
BSE – 4 Quadranten-Halbleiter-Detektor für den Hochvakuum-Betrieb
ETSE – Everhart Thornley Sekundärelektronen-Detektor für den Hochvakuum-Betrieb
VPSE – Variable Pressure Sekundärelektronen-Detektor für den Niedervakuum-Betrieb
- EDX-System Fabrikat Bruker QUANTX 200 mit XFlash® Detektor 5010 und Energieauflösung <129 eV (MnK, 100.000 cps) inkl. Software-Modul
- 3D-Datensatz-Generierung mit Software-Modul MeX von alicona imaging, inkl. 3D-Analyse und 3D-Oberflächenmessung
- Kammergröße: Durchmesser 420 mm und 330 mm Höhe
- 5-fach Tisch für die Aufnahme von bis zu 5 Filter-Membranen mit Durchmesser 47 mm
- 5-fach Tisch für die Aufnahme von bis zu 5 Filter-Membranen mit Durchmesser 25 mm
- 9-fach Tisch zur Aufnahme von Sonder-Probenträger für Analysen
- 5 Achsen motorisiert: X = 130 mm, Y = 130 mm, Z = 50 mm, T = 0-90°, R = 360°
Reinraum
- Reinraum der Reinraumklasse 8 nach ISO 14644-1
- Das unter modernsten Gesichtspunkten eingerichtete Labor unter Reinraumbedingungen verfügt über spezielle Material- und Personalschleusen um Kontaminations-Verschleppungen zu vermeiden
- Größe des Extraktionsraumes: 53 m²
- Größe des Auswerteraumes: 25 m²
- Personalschleuse
- Materialschleuse
- klimatisiert